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SANKO山高SM-Pen 電磁模擬涂層測厚儀

SANKO山高SM-Pen 電磁模擬涂層測厚儀塔瑪薩崎電子（蘇州）供應它是一種筆式探頭，**裝有超細磁極。現在還可以測量小零件和狹窄空間。
SANKO山高TL-50 電磁模擬涂層測厚儀

SANKO山高TL-50 電磁模擬涂層測厚儀塔瑪薩崎電子（蘇州）供應由于磁極安裝在細長的伸縮手柄的末端，因此可以測量細管背面（φ32 mm 或更高）、高處和遠處的涂膜。
SANKO山高SL-200E 電磁模擬涂層測厚儀

SANKO山高SL-200E 電磁模擬涂層測厚儀塔瑪薩崎電子（蘇州）供應小型探頭適用于測量局部涂層的厚度，例如平面、曲面到圓棒、零件、復雜形狀和內部。
SANKO山高SL-5P電磁模擬涂層測厚儀

SANKO山高SL-5P電磁模擬涂層測厚儀塔瑪薩崎電子（蘇州）供應它用于測量細管、彎頭中的薄膜等，例如無法接近的內表面、底部和底部表面。它具有獨特的探頭結構，具有一個小型的兩極測量桿和一個細長的導軌。
SANKO山高SL-120C 電磁模擬涂層測厚儀

SANKO山高SL-120C 電磁模擬涂層測厚儀塔瑪薩崎電子（蘇州）供應油漆 / 襯里 / 重度腐蝕。使用三級刻度，您可以使用一個單元測量從薄膜到厚薄膜。特別厚的膜可以測量到 15 毫米。
SANKO山高Pro-W 電磁模擬涂層測厚儀

SANKO山高Pro-W 電磁模擬涂層測厚儀塔瑪薩崎電子（蘇州）供應這是一種電磁膜測厚儀，可無損測量鐵基板*上的涂層和襯里等絕緣膜和電鍍等非磁性金屬膜的膜厚。國內公共法人、團體、政府機關、研究機構、各種法人等的標準、內部規定和標準，以及 ASTM、ISO 等。我們使用符合海外標準的兩點調整方法。包括鋼和鐵素體不銹鋼（SUS430 等）
SANKO山高Pro-S 電磁模擬涂層測厚儀

SANKO山高Pro-S 電磁模擬涂層測厚儀塔瑪薩崎電子（蘇州）供應這是一種電磁膜測厚儀，可無損測量鐵基板*上的涂層和襯里等絕緣膜和電鍍等非磁性金屬膜的膜厚。國內公共法人、團體、政府機關、研究機構、各種法人等的標準、內部規定和標準，以及 ASTM、ISO 等。我們使用符合海外標準的兩點調整方法。包括鋼和鐵素體不銹鋼（SUS430 等）
SANKO山高SP-3300D電磁涂層測厚儀

SANKO山高SP-3300D電磁涂層測厚儀塔瑪薩崎電子（蘇州）供應用于絲網加工的高性能、高精度數字涂層測厚儀。探頭的磁極**是平的，有重物加重，放在測量面上可以自由釋放，實現**的恒壓接觸。高重現性也可用于測量各種絲網、光刻膠、其他彈性涂層和未干燥的涂層。
SANKO山高CTR-2000V多功能數字涂層測厚儀

SANKO山高CTR-2000V多功能數字涂層測厚儀塔瑪薩崎電子（蘇州）供應噴漆 / 襯里 / 電鍍/橋梁 / 船舶 / 汽車 / 家用電器，鐵基板上的絕緣膜和非磁性金屬膜
SANKO山高SAMAC-F帶集成探頭的涂層測厚儀

SANKO山高SAMAC-F帶集成探頭的涂層測厚儀塔瑪薩崎電子（蘇州）供應一個小型涂層測厚儀，探頭和主體集成在其中，零點和標準調整也很容易通過按鈕作進行設置。噴漆 / 襯里 / 電鍍/普通噴漆測量
SANKO山高SWT-NEO-F 電磁式膜厚計

SANKO山高SWT-NEO-F 電磁式膜厚計塔瑪薩崎電子（蘇州）供應噴漆 / 襯里 / 電鍍一般繪畫
SANKO山高TRK-330N 厚膜和襯膠探知器

SANKO山高TRK-330N 厚膜和襯膠探知器塔瑪薩崎電子（蘇州）供應
SANKO山高TO-250D大功率厚膜檢測探知器

SANKO山高TO-250D大功率厚膜檢測探知器塔瑪薩崎電子（蘇州）供應橡膠襯里等厚物品的針孔檢測。
SANKO山高泄漏檢查器Lamp Checker HF-20

SANKO山高泄漏檢查器Lamp Checker HF-20塔瑪薩崎電子（蘇州）供應檢測燈泡和電子管中的泄漏或測定封裝氣體。檢測真空設備的玻璃管安瓿瓶和玻璃部件中的泄漏，或測定封裝氣體。
SANKO山高APH-D30C 針孔檢查器蘇州供應

SANKO山高APH-D30C 針孔檢查器塔瑪薩崎電子（蘇州）供應用于塑料瓶蓋、塑料瓶、薄膜和絕緣材料的針孔檢測。
SANKO山高APH-A25 針孔檢查器

SANKO山高APH-A25 針孔檢查器塔瑪薩崎電子（蘇州）供應它可以檢測難以通過目視檢查識別的密封缺陷和針孔缺陷。即時檢測化學品和食品中的密封缺陷和針孔。以非接觸方式檢查薄膜片材是否有針孔。

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