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塔瑪薩崎TONCON拓豐光度計

本產品是具有自動范圍功能和寬測量范圍的可定位數字光度計。照明設計師和電氣承包商的專業化，以及任何人都可以輕松準確地測量。
塔瑪薩崎TONCON拓豐光度計

本產品是符合JIS標準一般型AA級的高精度、高可靠性的照度計。它具有廣泛的可操作性，是下一代照明評估管理的理想選擇。有兩種型號的接收器分離 IM-600M，用于標準 IM-600 和小區域
塔瑪薩崎TONCON拓豐紫外線計

工業用途的UV格柵UVR-T1是管理電子元器件吊頂和粘合工藝中使用的紫外線照射設備，PCB生產線的印刷，干燥和安裝以及各個領域的**過程的理想選擇。根據該產品的測量結果，可以通過將其用于管理輸送機速度或燈強度分布和交換時間來調整客戶在產量方面的提高。此外，它還可用于光石工藝中設備的燈維護管理，例如半導體，FPD和印刷電路板
塔瑪薩崎TONCON拓豐紫外線計

本產品是方便的數字紫外計，具有各種測量功能。有3種不同類型的光學探測器可供選擇。可根據客戶需求從中選擇。測量范圍高達280，000μW/cm2，因此可以在每個領域使用。
塔瑪薩崎TONCON拓豐照度計

本產品是測量LED等光源的顯色指數（CRI），色溫和照度的儀器。 CRI、色溫和照度指定光源的顯色性屬性。近年來，LED、OLED照明和各種光源作為通用照明、環境光和植物工廠等光源頻繁使用，因此對簡單、方便、廉價的儀器來評估LED/OLED光源的輻照度和CRI的需求正在增加。 IM-1000R能夠進行寬范圍照度測量，用于檢查建筑行業的照度，以及檢測照明制造商研發和工廠的LED照明產品。
塔瑪薩崎TONCON拓豐亮度計

RD-80SA是業界首款多儀器，能夠測量響應時間、屏幕閃爍、亮度、色度和色溫。 *近，對3D電視的需求有所增加。有一個重要的評估項目來衡量串擾。這是極大地影響3D顯示性能的因素之一。本產品*適合測量3D顯示器的串擾。
塔瑪薩崎TONCON拓豐亮度計

新型BM-9A體積小，結構緊湊，方便的亮度計。您可以從具有不同測量角度的三個型號中選擇探測器單元，并且可以將BM-9A用于各種目的。探測器單元和主體是可拆卸的，因此BM-9A適用于集成測量系統和在生產線中使用。
塔瑪薩崎TONCON拓豐亮度計

它是長期銷售的產品BM-7系列的*新型號，用作FPD（平板顯示器）和各種光源燈亮度/色度測量的標準測量儀器。該產品具有高色度精度和高速度，適用于光源色彩測量領域的亮度管理、在線測量等。此外，通過直接顏色校正功能，它通過我們公司制造的其他儀器提供更穩定的測量。
塔瑪薩崎TONCON拓豐亮度計

*近，FDD，汽車儀器，熒光物質和光學器件的亮度和色度管理得到了提高。 BM-5AC是一款集高可靠性、可操作性和高速于一身的高靈敏度亮度色度計。
塔瑪薩崎TONCON拓豐亮度計

UA-10是高速、高精度、小尺寸亮度和色度均勻性分析儀。該分析儀使MURA監測應用在FPD器件、各種電子設備、照明設備等生產線系統的各個領域變得容易。該產品通過使用我們的校準和補償技術實現高精度測量。
塔瑪薩崎TONCON拓豐亮度計

2D亮度色度計UA-200是UA系列的新產品，用于測量汽車FPD和內飾面板亮度和色度的均勻性。 UA-200實現了毫米級的高色度精度。在當前應用程序中增加了新的六項功能，提高了UA-200在汽車，FPD和照明領域內飾面板的可用性。
塔瑪薩崎TONCON拓豐亮度計

2D亮度色度計UA-200A是UA系列的*新型號，可以高精度測量FPD，照明和汽車內飾面板的亮度和色度的均勻性。 UA-200A的測量范圍比傳統產品更寬。（從 0.0005 cd/m2 到 1，000，000 cd/m2）此外，它還具有一個新的功能，即層函數，可以通過添加層函數來測量從低亮度到高亮度的塊狀物。
塔瑪薩崎TONCON拓豐光譜儀

*近，對測量近紅外光譜區域的需求有所增加，但是，特別是在 FPD和照明市場，沒有方便且高精度的測量儀器。在這種情況下，我們基于我們**的SR-3AR技術開發了近紅外光譜儀SR-NIR。而且，您可以使用其他SR系列和SR-NIR測量從380nm到1030nm的光譜輻射。
塔瑪薩崎TONCON拓豐光譜儀

*近，顯示器的質量和功能得到了提高，對更復雜的儀器的需求也在增長。該產品具有高精度和高速測量的特點，因此可用于滿足各種需求。 SR-3AR取代了SR-3A/SR-3A-L1，增強了測量范圍和穩定性。
塔瑪薩崎TONCON拓豐光譜儀

以前的型號 SR-UL1 可以測量低至 0.005cd/m2 的極低亮度。該產品繼承了SR-UL1的高品質，并通過USB接口和電動孔徑角增強了其可操作性。 SR-UL1R 的*新等級可將保證精度范圍擴展到 0.001 cd/m2。
塔瑪薩崎TONCON拓豐光譜儀

與當前型號 SR-UL1R 相比，該產品的靈敏度和測量速度有所提高。這款 SR-UL2 是適用于測量大對比度 FPD 的測量儀器，其測量范圍從 0.0005 到 300，000 cd/m2，*低可測量亮度高達 0.0005cd/m2。在0.005cd/m2時，測量時間約為17秒，是測量儀器領域中*快的水平。該產品不僅可用于設計和開發部門，還可用于生產線中的質量控制。
塔瑪薩崎TONCON拓豐光譜儀

本產品配備FIX模式，可自動優化配置，實現約0.4秒的超高速測量。這個測量時間是我們以前的型號的一半。 SR-LEDH將滿足高精度和高速測量的嚴格要求，適用于LED模組生產線的質量控制。特征 ■ 通過局域網進行高速測量（0.4秒），具有FIX模式。 ■ 通過我們新的**光學系統降低了靈敏度的均勻度。 ■ 機身超薄，適用于加工線和系統設備。 ■ 內附原裝軟件開發工具包。（軟件開發工具包） * 軟件開發工具包（SDK）該開發工具包為客戶開發LAN通信軟件提供了方便的工具。 SDK由開發LAN通信軟件所需的頭文件，庫，示例程序組成。您可以通過調用模塊中的庫函數來開發網絡編程（套接字通信編程）。客戶還可以使用網絡編程開發軟件，而無需SDK。可以通過網絡中的PC控制SR-LEDH，也可以通過一臺PC控制多個SR-LEDH。返回頁首主要用途 ■ LE
塔瑪薩崎TONCON拓豐光譜儀

該產品是 Topcon 光譜輻射計中的一款新型**型號，能夠測量從 0.0005cd/m2 的超低亮度到 5，000，000cd/m2 的超高亮度的寬動態范圍。除了新的FIX模式外，SR-LEDW還自動計算*佳測量設置，并縮短連續測量同一物體的測量時間。該產品不僅可以在設計/開發部門高速，高精度地用于LED模組生產線的質量控制。
塔瑪薩崎TONCON拓豐光譜儀

該產品是 Topcon 光譜輻射計中的一款新型**型號，能夠測量從 0.0005cd/m2 的超低亮度到 5，000，000cd/m2 的超高亮度的寬動態范圍。除了新的FIX模式外，SR-LEDW還自動計算*佳測量設置，并縮短連續測量同一物體的測量時間。該產品不僅可以在設計/開發部門高速，高精度地用于LED模組生產線的質量控制。半波段寬度為5nm或更小。
塔瑪薩崎TONCON拓豐光譜儀

大綱 SR-5A是新一代光譜儀，可以測量從超低亮度到超高亮度的高靈敏度和高速度。測量角度1°下的測量范圍是超低亮度從0.0005 cd /m2擴展到500，000，000 cd / m2的高亮度范圍。 SR-5A無需使用外部ND濾光片即可測量超高亮度LED。 SR-5A通過更新光學系統和改進內部系統算法，縮短了測量時間。通過采用大尺寸彩色觸摸屏，顯著提高了可用性。
塔瑪薩崎TONCON拓豐光譜儀

大綱 2D光譜輻射計是采用1nm光譜技術進行高精度和**測量，具有強大的數據分析軟件。通過分析包含頻譜等詳細信息的圖像，可以對各種對象和目的進行傳感。
塔瑪薩崎TONCON拓豐光譜儀

2D光譜輻射計是采用1nm光譜技術進行高精度和**測量，具有強大的數據分析軟件。通過非破壞和非接觸，一種光譜儀儀器，有助于保持各種產品的高質量，因為它可以以500萬像素，170億cd / m為單位評估光源或物體的光譜特性2和1nm，如光源的波長特性，材料的光譜透射率特性。 2D光譜輻射計SR-5100分析物體的獨特光譜，不僅可以用于濾光片方法成像色度計或人眼無法評估的特征和發光產品，還可以用于物體的反射光和模擬評估。它可用于廣泛的行業和應用，包括正在加速開發的微型/迷你LED顯示屏，相關材料，材料的紋理，護膚品，紡織印染，景觀等。

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