视频一区日韩,免费观看黄色av网站,美女视频黄频a美女大全

搜索

熱門搜索：

代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產業、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.

產品中心

熱門品牌展示

產品展示

蘇州代理日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM

OPTM 是一種通過使用顯微光譜法測量微小區域的優良反射率，實現高精度薄膜厚度和光學常數分析的設備。各種薄膜、晶片、光學材料和多層薄膜等涂膜的厚度可以非破壞性和非接觸方式測量。測量時間為1秒/點的高速測量是可能的。它還配備了軟件，即使是初學者也可以輕松分析光學常數。
蘇州代理光纖動態光散射光度計 FDLS-3000

使用固態激光器和高靈敏度檢測器（冷卻光電子雙管），可以測量0.5納米至5000納米顆粒的粒度和粒度分布（粒度和粒度分布）。
OTSUKA大塚電子動態光散射光度計 DLS-6500series

粒度/粒度分布（粒度/粒度分布）可以使用動態光散射法測量。
蘇州OTSUKA大冢電子動態光散射光度計 DLS-8000

可以使用動態光散射法測量粒度/粒度分布（粒度/粒度分布）和使用靜態光散射法測量優良分子量/慣性半徑/秒維里系數。
OTSUKA大冢電子高靈敏度差示折光儀 DRM-3000

通過注射器方法可以很容易地進行樣品注入。數據處理很容易，因為控制和數據采集是從個人計算機執行的。可以進行低噪音、高穩定性和良好再現性的測量。通過靜態光散射法測定重均分子量的 Dn / dc 測量表面活性劑等膠束臨界濃度（cmc）的測定聚合物吸附量的測定聚合物共聚物的成分分析脂質體相變溫度的測定等
OTSUKA大冢電子 nanoSAQLA帶自動進樣器 AS50

nanoSAQLA的特點 1臺輕松連續測定5個樣品實現了沒有自動進樣器難以實現的多個樣品的連續測定也可以通過改變每個樣品的條件進行測量。對應從精益到富的系統標準測量時間為1分鐘的高速測量自動調整*佳測量位置，從濃縮樣品到稀釋樣品，實現約1分鐘的高速測量。配備簡易測量功能（一鍵即可開始測量）軟件簡單易懂，無需任何復雜操作內置非浸入式電池塊，不分液無污染因為每個電池都是獨立的，所以無需擔心污染。配備溫度梯度功能溫度可輕松設置 ■ AS50的特點連續測量多達 50 個樣品即使在測量過程中也可以添加樣品簡單方便的樣品組（一次*多可更換 50 個樣品）兼容有機溶劑（玻璃一次性電池）樣品容量至少 0.4 ml 測量范圍（理論值）粒徑0.6nm～10μm 濃度范圍 0.00001-40% 溫度范圍0-90°C *
OTSUKA多檢體納米粒徑量測系統 nanoSAQLA

一臺5檢體輕松連續量測一鍵測定簡易功能對應低濃度到高濃度標準測定時間一分高速測定非浸入式、非分注式連續量測搭載溫度梯度(0 ~ 90℃) 對應多國語言操作介面(繁體中文、日文、英文、簡體中文、韓文
OTSUKA大冢電子Zeta電位測量儀ELSZ-2000S

*新的高靈敏度APD實現了更高的靈敏度和更短的測量時間通過自動溫度梯度測量可以進行退化/相變溫度分析可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量增加了廣泛的分子量測量和分析功能支持懸浮高濃度樣品的粒度測量非常適合在界面化學、無機物、半導體、高分子、生物、制藥、醫藥等領域中，不僅涉及微粒子，而且還涉及薄膜、平板等表面科學的基礎研究和應用研究。
OTSUKA大冢電子Zeta電位測量儀ELSZ-2000Z

*新的高靈敏度APD實現了更高的靈敏度和更短的測量時間通過自動溫度梯度測量可以進行退化/相變溫度分析可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量支持懸浮高濃度樣品的 zeta 電位測量測量電池中的電滲流，并通過繪圖分析提供高度準確的 zeta 電位測量結果。支持高鹽濃度溶液的zeta電位測量支持小面積樣品的平板zeta電位測量非常適合在界面化學、無機物、半導體、高分子、生物、制藥、醫藥等領域中，不僅涉及微粒子，而且還涉及薄膜、平板等表面科學的基礎研究和應用研究。
OTSUKA大塚電子粒徑量測儀ELSZ-2000ZS

特殊長度 *新的高靈敏度APD實現了更高的靈敏度和更短的測量時間通過自動溫度梯度測量可以進行退化/相變溫度分析可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量增加了廣泛的分子量測量和分析功能支持懸浮高濃度樣品的粒徑和 zeta 電位測量測量電池中的電滲流，并通過繪圖分析提供高度準確的 zeta 電位測量結果。支持高鹽濃度溶液的zeta電位測量支持小面積樣品的平板zeta電位測量采用非常適合在界面化學、無機物、半導體、高分子、生物、制藥、醫藥等領域中，不僅涉及微粒子，而且還涉及薄膜、平板等表面科學的基礎研究和應用研究。新型功能材料領域燃料電池相關（碳納米管、富勒烯、功能薄膜、催化劑、納米金屬）生物納米相關（納米膠囊、樹枝狀大分子、DDS、生物納米顆粒）、納米氣泡等。陶瓷/著色材料工業領域陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）表面改
OTSUKA大冢電子zeta電位·粒徑·分子量測系統 ELSZ-neo

特殊長度可以在從稀溶液到濃溶液 (~ 40%) * 1的寬濃度范圍內測量粒度和 zeta 電位。多角度測量能夠以高分辨率測量粒度分布高鹽濃度下可測量平板樣品的Zeta電位可以使用靜態光散射法測量粒子濃度可通過動態光散射法進行微流變測量可以通過測量凝膠樣品的多個點來評估凝膠的網絡結構和不均勻性。使用標準流通池可以連續測量粒徑和 zeta 電位。可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量。通過溫度梯度功能可以對蛋白質等進行變性/相變溫度分析測量電池中的電滲流，并通過繪圖分析提供高度準確的 zeta 電位測量結果。可安裝熒光截止濾光片（可選）采用它是表面化學、無機物質、生命科學、半導體、聚合物、生物學、藥學和醫學領域中涉及表面科學的基礎研究和應用研究的理想選擇。新型功能材料領域燃料電池相關（碳納米管、富勒烯、纖維素納米
嵌入式膜厚儀FE-5000

在高精度薄膜分析的光譜橢偏儀之上，增加安裝了測量角度可自動變化裝置,可對應所有種類的薄膜。在傳統旋轉分析儀法之上，通過安裝相位差板自動分離裝置，提高了測量精度。
高速配光測量系統GP-7

它是一種單獨評估光源或光學材料光分布的設備。實現10分鐘的測量時間，顛覆分布測量常識！僅一次測量可捕獲每個空間照度！支持其他公司的光學設計軟件處理的數據格式！設備尺寸緊湊， 1.5平方米角落即可收納！也可輸出通用IES格式的配光數據！從光源的光分布測量到透鏡和薄膜等材料的光學特性，擁有廣泛的測量評估范圍。
相位差膜?光學材料檢查設備　RETS-100

對應范圍廣，從反射型?透過型type的已封入液晶的cell到帶有彩色濾光片的空cell都可對應
高靈敏度NIR量子效率測量系統QE-5000

可以檢測到單重態氧（活性氧）　
單粒子熒光診斷系統

基于與NIMS共同開發的單顆粒診斷方法*的測量是可能的。 * 與國立材料科學研究所，弘前直人研究員和武田隆史研究員共同研究

蘇公網安備 32050502000409號