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產品詳情
簡單介紹：
FDLS-3000
OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計
根據固體激光和高靈敏度檢測器（冷卻型光電子倍增管），可以測量0.5nm～5000 nm的粒子直徑和粒子直徑分布（粒徑·粒徑分布）。OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000
詳情介紹：
FDLS-3000
OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計
OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計
特長OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000
根據固體激光和高靈敏度檢測器（冷卻型光電子倍增管），可以測量0.5nm～5000 nm的粒子直徑和粒子直徑分布（粒徑·粒徑分布）。
寬的小區空間（W150×D 150×H150mm），也可以對應高溫、高壓單元等特殊的單元格。（特別規格）
廣范圍的散射測量角度（30°～150°）
測試測量，本測量，分析，打印，數據注冊的一系列操作的自動處理。
測量項目
粒子直徑測量范圍0.5nm～5000 nm（固體激光）
粒子直徑測量范圍0.5nm～5000 nm（固體激光）
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