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產品詳情
簡單介紹：
OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統
熒光體1粒子的熒光特性可以測定的高靈敏度系統。
1從粒子的取出到測量的系統化。
可以測量10μm的粒子。
支持恒溫到600°C的溫度依賴性測量
OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統
詳情介紹：
OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統
基于與NIMS共同開發的單粒子診斷法*的測定是可能的。
國立研究開發法人物質·材料研究機構。
基于與NIMS共同開發的單粒子診斷法*的測定是可能的。
國立研究開發法人物質·材料研究機構。
與廣崎尚登法羅、武田隆史研究員的共同研究
熒光體1粒子的熒光特性可以測定的高靈敏度系統。
1從粒子的取出到測量的系統化。
可以測量10μm的粒子。
支持恒溫到600°C的溫度依賴性測量
OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統
測量項目。
量子效率(量子收獲率)。
發光光譜。
激發光譜。
溫度特性
単粒子診斷法による測定の流れ
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| 蛍光體を合成後、勵起光照射 | １粒子採取 | 蛍光體の特性を測定 |
勵起?発光スペクトル測定顕微ユニット
量子効率（量子収率）測定ユニット
產品留言
