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產品詳情
  • 產品名稱:OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700

  • 產品型號:FE-3700
  • 產品廠商:OTSUKA大塚電子
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簡單介紹:
FE-3700 OTSUKA大冢-膜厚測量系統 OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700
詳情介紹:
FE-3700
     OTSUKA大冢-膜厚測量系統

特 長:

可以快速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學常數.。為大型玻璃基板(包括下一代尺寸)和LCD、TFT和有機EL提供支持。

OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700


用 途
  • LCD
    ITO/Glass、PI/OC/Glass、CF/Glass、Resist/Glass
  • TFT
    SiN/a-Si/Glass
  • 有機EL
    有機EL/ITO/Glass
  • PDP
    誘電體層/Glass


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