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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產業、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.

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產品名稱：蘇州代理OTSUKA激活測量儀 RETS-100nx
產品型號：
產品廠商：OTSUKA大塚電子
產品價格：0
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簡單介紹：

支持OLED用偏光板、層疊型相位差板、IPS液晶相位差板偏光板等各種薄膜的相位差測量裝置。實現與超高 Re.60000 nm 兼容的高速、高精度測量。可以“無剝離”和“無損”測量薄膜的層壓狀態。此外，它配備了簡單的軟件和校正功能，支持由于樣品重新定位而導致的錯位，從而實現簡單且高精度的測量。

詳情介紹：

規格

模型	飽和度測量裝置 RETS-100nx
測量項目（薄膜、光學材料）	Ritalization（波長色散）、慢相軸、Rth ^{* 1}、3D 折射率^{* 1}等
測量項目（偏光板）	吸收軸、偏振度、消光比、各種色度、各種透過率等。
測量項目（液晶單元）	單元間隙、預傾角^*1、扭曲角、配光角等
活化測量范圍	0-60,000nm
重復性	3σ≤0.08nm（晶體波片約600nm）
單元間隙測量范圍	0 至 600 μm（當 Δn = 0.1 時）
單元間隙重復性	3σ ≤ 0.005 μm（當單元間隙約為 3 μm 且 Δn = 0.1 時）
軸檢測重復性	3σ≤0.08°（晶體波片約600nm）
測量波長范圍	400-800nm（可提供其他選擇）
探測器	多通道光譜儀
測量直徑	φ2mm（標準規格）
光源	100W鹵素燈
數據處理部	個人電腦、顯示器
舞臺尺寸：標準	100mm x 100mm（固定載物臺）
選項	?超高延遲測量 ?多層測量 ?軸角校正功能 ?自動XY臺 ?自動傾斜旋轉臺

* 1 需要自動傾斜旋轉平臺（可選）

產品信息

特殊長度

只有獨特的分光鏡才能完成的高精度測量

■ 高精度

通過多波長測量實現高精度
λ / 4、λ / 2 等在短波長下難以測量的結果可以作為近似值獲得。可以在不受膜厚干涉波形影響的情況下獲得結果。
<高精度的原因> -使用獨特
的高性能多通道光譜儀-
由于　　　可以獲得大量的透射率信息，因此可以進行高精度測量
（獲得的透射率）。約500個波長，是其他公司產品的約50倍）