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產品名稱：Otsuka大塚電子 RETS延遲測量設備
產品型號：
產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：

Otsuka大塚電子 RETS延遲測量設備它是一種延遲測量設備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。實現超高Re.60000nm的高速、高精度測量。薄膜的層壓狀態可以通過“無剝離、無損”進行測量。此外，它還配備了簡單的軟件和校正功能，通過重新放置樣品來糾正偏差，從而輕松實現高精度測量。

詳情介紹：

江蘇地區代理Otsuka大塚電子 RETS延遲測量設備RETS-100nx

規格

手勢

類型表達式	延遲測量設備 RETS-100nx
測量項目（薄膜、光學材料）	延遲（波長色散）、慢軸、Rth^1，三維折射率^1等
測量項目（偏振板）	吸收軸、偏振度、消光比、各種色度、各種透射率等
測量項目（液晶電池）	細胞間隙，預傾角^*1、扭曲角、取向角等
延遲測量范圍	0 ～ 60,000nm
延遲可重復性	3 μ≦0.08nm（晶體波長板約 600nm）
細胞間隙測量范圍	0 到 600μm（μn = 0.1）
細胞間隙可重復性	3π≦0.005μm（單元間隙約3μm、Δn=0.1時）
軸檢測可重復性	3° ≦0.08° （晶體波長板約 600nm）
測量波長范圍	400 至 800nm（可選）
探測器	多通道光譜儀
測量直徑	φ2mm （標準規格）
光源	100W 鹵素燈
數據處理部	個人計算機、顯示器
舞臺尺寸：標準	100mm × 100mm（固定級）
選項	超高延遲測量、多層測量、軸角度校正功能、自動 XY 級、自動傾斜旋轉階段

*1 需要自動傾斜旋轉階段（可選）

特點

高精度測量，因為它是專有的光譜儀

■ 高精度

通過多波長測量實現

在短波長下，可以確定近似值的結果，如難以測量的 lamb標準 / 4，lamb標準 / 2。結果不受薄膜厚度干擾波形的影響。
高精度 <高精度原因>
使用獨特的高性能多通道光譜儀
，獲得大量的透射率信息，可實現
高精度測量（獲得的透射率信息約為 500 波長，是其他公司產品的 50 倍）