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產品詳情
簡單介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 線掃描膠片測厚儀OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統 ELSZneo
詳情介紹：
產品信息
特征
- 采用線掃描方式實現無“遺漏”的全表面薄膜檢測
- 可由專門從事薄膜厚度測量的制造商提供的**支持
- 高速高精度測量
- 使用抗顫振的光學系統
- 寬樣品（TD 方向可達 10 m）
- 硬件和軟件的原始設計
規范
| 薄膜厚度范圍 | 0.7~300微米 |
| 測量寬度 | 500 mm~*大 10 m |
| 測量間隔 | 10毫秒~ |
| 設備尺寸（寬×深×高） | 81×140×343 毫米 |
| 重量 | 4 公斤（僅頭部） |
| *大功耗 |
交流100 V±10% 125VA |
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