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MCPD series OTSUKA大冢-膜厚測定用多頻道分光器MCPD seriesOTSUKA大冢-膜厚測定用多頻道分光器MCPD seriesOTSUKA大冢-膜厚測定用多頻道分光器MCPD series
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FE-300 OTSUKA大冢-膜厚監視器 是一種通過簡單操作實現高精度光干涉法的膜厚測量的小型低價格的膜厚計。 采用將必要的機器收納在機身部位的一體化體型外殼，實現了穩定的數據的獲取 通過獲取低價位的優良反射率，也可以進行光學常數的分析。OTSUKA大冢-膜厚監視器FE-300OTSUKA大冢-膜厚監視器FE-300
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FE-3000 OTSUKA大冢-反射性的分鐘光膜厚計 利用顯微的微小領域的優良反射率的取得，通過高精度的光干涉法的膜厚解析可能的裝置。 多種多樣的樣品的膜厚·光，除了半導體領域的圖案樣品、透鏡和鉆孔之類的形狀樣品之外，還有表面粗糙度和膜厚不均的樣品。能夠進行定數分析。OTSUKA大冢-反射性的分鐘光膜厚計FE-3000OTSUKA大冢-反射性的分鐘光膜厚計FE-3000
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OPTM series OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM series
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HS-1000 OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射輝度計 從低亮度到高亮度可以高速·高精度的測量的分光輻射亮度計。 使用電子冷卻型的線性陣列傳感器，通過大冢電子獨自的分光光學設計和信號處理電路的寬亮度范圍和波長域，實現了低噪聲的高精度的測量。OTSUKA大冢- 高靈敏度分光放射輝度計HS-1000OTSUKA大冢- 高靈敏度分光放射輝度計HS-1000OTSUKA大冢- 高靈敏度分光放射輝度
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MCPD-9800/6800 OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/6800OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/6800OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/6800
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ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 高分子相結構分析系統ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 高分子相結構分析系統ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 高分子相結構分析系統ELSZ-2000S
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Agilent 7100 OTSUKA大冢- 毛細管電泳系統 陽離子和陰離子等不同的成分可以用一臺裝置進行分析。 用微量樣品可以進行短時間、高分辨率的分析。 OTSUKA大冢- 毛細管電泳系統Agilent 7100OTSUKA大冢- 毛細管電泳系統Agilent 7100OTSUKA大冢- 毛細管電泳系統Agilent 7100
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DRM-3000 OTSUKA大冢-高靈敏度示差折射計 可以根據靜光散射法的重量平均分子量決定的dn / dc測量。 OTSUKA大冢-高靈敏度示差折射計DRM-3000OTSUKA大冢-高靈敏度示差折射計DRM-3000OTSUKA大冢-高靈敏度示差折射計DRM-3000
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SLS-6500HL OTSUKA大冢- 靜態光散射光度計 可以測量使用靜光散射法的**分子量、慣性半徑、**膽量系數。 OTSUKA大冢- 靜態光散射光度計SLS-6500HLOTSUKA大冢- 靜態光散射光度計SLS-6500HLOTSUKA大冢- 靜態光散射光度計SLS-6500HL
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FPAR-1000AS OTSUKA大冢- 自動桑普勒濃厚系顆粒直徑 FPAR和自動取景器的組合中，關于50檢體的試料，可以進行粒子直徑的自動測量。 樣品量為1ml，可以使用廉價的電筒進行測量。 OTSUKA大冢- 自動桑普勒濃厚系顆粒直徑FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自動桑普勒濃厚系顆粒直徑FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自動桑普勒濃厚系顆粒直徑FPAR-100
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FPAR-1000 OTSUKA大冢- 濃厚系顆粒直徑系統 從稀薄系到濃厚系，在廣泛的濃度區域中的粒子直徑測量 *適合分析膠體分散液和拉拉力的分散狀態。 OTSUKA大冢- 濃厚系顆粒直徑系統FPAR-1000OTSUKA大冢- 濃厚系顆粒直徑系統FPAR-1000OTSUKA大冢- 濃厚系顆粒直徑系統FPAR-1000
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FDLS-3000 OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計 根據固體激光和高靈敏度檢測器（冷卻型光電子倍增管），可以測量0.5nm～5000 nm的粒子直徑和粒子直徑分布（粒徑·粒徑分布）。OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纖光學動態光散射光度計FDLS-3000
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DLS-6500series OTSUKA大冢- 動態光散射光度計 可測量使用動態光散射法的粒子直徑、粒子直徑分布（粒徑、粒徑分布）。 OTSUKA大冢- 動態光散射光度計DLS-6500seriesOTSUKA大冢- 動態光散射光度計DLS-6500seriesOTSUKA大冢- 動態光散射光度計DLS-6500series
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ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒徑·分子量測量系統ELSZ-2000S
